About Sparpoint Korea

SPAR Point 그룹은 3D 이미징 기술관련 전문가를 위한 컨퍼런스를 주최하며, 다음과 같은 뉴스와 정보를 제공합니다.


■ 신기술에의 투자를 위한 비즈니스 기회 분석
■ 제품과 서비스의 선택을 위한 통찰력 있는 평가
■ 업계 베스트 프랙티스의 케이스 스터디
■ 혁신적인 기술에 관한 새로운 정보
■ 업계의 인수합병, 파트너링, 제품에 관한 뉴스

■ 3D 스캐닝 및 3D 프린터 기술
■ 포토그라메트리 (Photogrametry) 기술
■ UAV (Unmanned Aerial Vehicle)와 매핑
■ 3D 캐드 솔루션 동향
■ Kinect 및 포인트클라우드





2015년 7월 22일 수요일

Orbit GT : 모바일 매핑 Content Manager v11.1

Orbit GT 모바일 매핑 관한 데이터 수집에서 사후 등록 관리 일련의 흐름 크게 개선 Content Manager v11.1 발표했다.
모든 하드웨어 공급업체에 지원하고 있다.


Teledyne Optech : Esri 2015 사용자 대회에서 GIS 데이터를 채취한 신규 소프트웨어 전시

Teledyne Optech 7 20~24 티아에서 개최되는 Esri 2015 사용자 대회에서 Optech Galaxy Optech ILRIS 새로운 자료를 발표한다.


탑콘 : 일본의 역사 문화유산 보호에 주력

탑콘 일본 메이지시대 유산 하나인 가고시마현 오쿠치시의 소기발전소 디지털 아카이브(archive, 기록 보관소) 구축 하고 있다. 또한 프로젝트 세계 문화유산 디지털 아카이브 진행하고 있다. CyArk 500 Challenge 활동 하나로 소개되고 있다.
소기발전소 적은 바닥 아있 건물 수위를 낮추는 5~7 에만 전체가 수면 위로 나타나는 희귀한 유적이다.



MAPPS : A&E 산업 포럼 개최

지리업계 민간 기구인 MAPPS Architecture & Engineering(A&E) 산업 포럼 개최한다. MAPPS 회원 기업 가운데 A&E 관련 기업 25% 차지하고 있다.



Commercial UAV Expo에 UAS기업 55개사 참가

올해 10 5~7 라스베이거스에서 개최되는 Commercial UAV Expo UAS(Unmanned Aircraft Systems) 관련 기업 55개사 이상이 참가하기로 하였.


[비디오 소개] 할리우드 영화계 점군 아티스트 모집









최근 할리우드 영화계 주요 미디어사가 3차원 점군 데이터 자유롭게 조종할 있는 아티스트 모집한다 소식을 자주 들었. 설계자(건축가) 아니라, 아티스트(예술가)이다. 그들 업무 흐름 속에 점군 가져올 것이다.



ARC 설문 응답자 중 한 분에게 다음 SPAR2016 회의를 무료로





<원문> Win a Free Registration for SPAR '16

점군 좌표는 실제 좌표로 해야






Jan Van Sickle


레이저 스캐너에서 얻은 좌표 일차적으로 스캐너에 대한 상 위치이다. 다음과 같은 스캔 데이터는 사전 검사 데이터 맞물려 일부를 최소 제곱법으로 편차 최소한이 되도록 결정해가는 방식이 많았다. 러한 방식으로는 오차가 누적돼 개선하기 위해 목표 등을 이용하여 정확도 높여가는 방법 되었다.

그러나
좌표 평면이라고 가정 로컬 좌표계 결정되는 경우가 많다. 국부적인 측정라면 상관 없지만 측지상의 좌표(geodetic coordinate system) 사용해야 한다. 최근에는 GNSS에서 쉽게 아이의 위치 얻을 있게



미켈란젤로가 정말 이 동상을 제작했는가


노인과 젊은이 동상 래는 르네상스 미켈란젤로 작품이었다 오랜 세월 전해져 왔지만, 최근 학회에서 진위 논란이 되고있다.
러한 논란은 2 캠브리지 박물관 Fitzwilliam Museum in Cambridge통해 3D 스캔 적용using 3D scanning하여 확실히 미켈란젤로 작품임을 명했다.
3D 스캔 비롯해 중성자 이미지(neutron imaging), XRF 분석, X 영상 측량 최신 과학 기술 구사하여 제작 과정을 공개하고 세대 작품 비교 검증하였다.
XRF (X
형광 원소 분석법 : X-ray Fluorescence Analysis,)